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德国菲希尔FISCHER  XUL \ XULM  X 射线荧光镀层测厚仪
  • 德国菲希尔FISCHER  XUL \ XULM  X 射线荧光镀层测厚仪

德国菲希尔FISCHER XUL \ XULM X 射线荧光镀层测厚仪

简介:在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时,XUL® 系列测量仪器是您的首选解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量,能够在测量台上对样品进行轻松定位。
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详细说明

在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时,XUL® 系列测量仪器是您的首选解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量,能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。

特性:

● 凭借宽大的测量室和自下而上的测量方向,即使大型样品(如:印制电路板或柔性电路板)也可简便、快速地定位

● 硬件选项丰富多样,可满足各种测量需求

内蒙古快3● 可选配微聚焦 X 射线管,从而可测量直径仅为 100 µm 的微型结构和测量表面

 

应用:

● 铬镀层,如:经过装饰性镀铬处理的塑料制品

● 防腐蚀镀层,如钢材上的锌镀层

● 印制电路板和柔性电路板上的镀层

内蒙古快3● 接插件和连接器上的镀层

● 电镀槽液分析


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